本發(fā)明的實施例涉及核徑跡技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于測量核孔膜的物理參數(shù)的設(shè)備和方法。適用于但不僅限于沿預定方向連續(xù)不間斷傳送的核孔膜的測量,可測量核孔膜的物理參數(shù)。設(shè)備包括:夾持系統(tǒng),用于夾持核孔膜以將核孔膜的待測部分穩(wěn)定地保持在測量位置;測量系統(tǒng),用于在夾持系統(tǒng)將待測部分穩(wěn)定地保持在測量位置時,測量核孔膜待測部分的物理參數(shù);傳送系統(tǒng),當待測部分保持在測量位置時,用于使位于設(shè)備上游和下游的核孔膜沿原定方向繼續(xù)傳送。設(shè)備能夠?qū)μ幱趥魉蜖顟B(tài)的核孔膜進行測量,即不影響位于設(shè)備上下游的核孔膜的傳送,也無需裁剪核孔膜,是一種無損測量設(shè)備。
聲明:
“用于測量核孔膜的物理參數(shù)的設(shè)備和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)