本發(fā)明涉及等離子體技術(shù)領(lǐng)域,具體地涉及等離子體溫度分布測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括:等離子體發(fā)生模塊,包括正電極及負(fù)電極、絕緣阻擋介質(zhì),所述正電極和所述負(fù)電極相對(duì)布置,所述正電極和所述負(fù)電極之間間隔有所述絕緣阻擋介質(zhì),所述絕緣阻擋介質(zhì)形成為一側(cè)具有開(kāi)口的腔體,所述腔體的其他側(cè)面中的至少一側(cè)面用透紅外封堵材料封堵;以及紅外測(cè)量模塊,布置于與所述腔體的用所述透紅外封堵材料封堵的一側(cè)面間隔預(yù)定距離的位置,用于測(cè)量所述腔體中產(chǎn)生的等離子體的紅外分布,從而測(cè)量所述等離子體的溫度分布。該等離子體溫度分布測(cè)量系統(tǒng)能夠通過(guò)測(cè)量等離子的紅外分布而測(cè)量等離子的溫度分布,從而能夠?qū)崿F(xiàn)無(wú)損且準(zhǔn)確的溫度分布測(cè)量。
聲明:
“等離子體溫度分布測(cè)量系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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