本發(fā)明公開了一種電路板壽命測試的夾持裝置,包括固定操作板,所述固定操作板上設(shè)置有導(dǎo)向軌,所述導(dǎo)向軌中開設(shè)有凹型槽,所述凹型槽中活動設(shè)置有第一夾持塊;所述T型連接塊固定連接于絲桿上,所述絲桿遠(yuǎn)離T型連接塊的一端固定貫穿于蝸輪的中心,所述蝸輪活動設(shè)置在蝸桿上,所述絲桿上活動設(shè)置有螺母座,所述螺母座上固定設(shè)置有第二夾持塊。本發(fā)明提供了電路板壽命測試的夾持裝置,該裝置能夠穩(wěn)定地對不同規(guī)格的電路板進(jìn)行夾持,適用范圍廣,內(nèi)置的第一夾持塊和第二夾持塊分別能夠進(jìn)行粗調(diào)和微調(diào),精細(xì)化程度高,能夠?qū)苄暂^強(qiáng)的電路板實(shí)現(xiàn)無損夾持。
聲明:
“電路板壽命測試的夾持裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)