本發(fā)明涉及一種利用交流阻抗測(cè)試優(yōu)化化成工步的方法。所述方法包括以下步驟:(1)取至少3個(gè)相同工藝制造的電芯,在不同的電流下,分別充電,進(jìn)行化成;(2)對(duì)每個(gè)電芯進(jìn)行交流阻抗測(cè)試,獲得交流阻抗圖譜,選擇高頻區(qū)出現(xiàn)圓弧的交流阻抗圖譜,所述圖譜對(duì)應(yīng)的工步即為所述電芯優(yōu)化的化成工步。所述方法可針對(duì)性的具體確定化成電流和時(shí)間,優(yōu)化SEI膜成膜狀態(tài),極大的提高成膜質(zhì)量和化成效率,提高電池的整體性能;所述方法,普適性強(qiáng),不用深入探究SEI膜的成膜機(jī)理,屬于無(wú)損測(cè)試,能夠準(zhǔn)確收集阻抗譜特性。此外,所述方法操作簡(jiǎn)單,所需時(shí)間短,效率高,具有廣泛的應(yīng)用前景。
聲明:
“利用交流阻抗測(cè)試優(yōu)化化成工步的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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