本發(fā)明公開了一種基于緊湊型D?D中子源的熱中子透射成像方法及成像裝置,采用緊湊型D?D中子源提供外源中子,經(jīng)中子慢化體將型D?D中子源輸出的2.45MeV的D?D快中子慢化為熱中子或超熱中子,慢化后進入D?D中子源上方中子慢化體中豎直設置的上大下小的錐形中子準直孔道內(nèi),經(jīng)準直的熱中子束透射被檢測物體,透射穿過物體的熱中子通過錐形中子準直孔道上端安裝的熱中子像探測器系統(tǒng)探測,經(jīng)熱中子像探測器系統(tǒng)轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字化的透射圖像,得到熱中子透射強度二維空間分布,進而獲得被檢測物體的內(nèi)部結(jié)構及不同材料的空間分布情況。本發(fā)明具有可移動式、快速、準確、無損、良好空間分辨性的特點,可用于物體的無損檢測。
聲明:
“基于緊湊型D-D中子源的熱中子透射成像方法及成像裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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