本發(fā)明屬于無損檢測技術領域,具體涉及一種光學無損
檢測儀器,一種殘余應力沿深度分布分析儀,激光器(1)射出的激光經(jīng)空間濾波器(2)后,投射到大面積全反射鏡(3.1),大面積全反射鏡(3.1)將激光反射到非球面鏡,使光場成為均勻的準直光場,光場經(jīng)三方向云紋組合板(3.3)及相移器全反射部件(5)的折射后,照射至試件表面,控制處理系統(tǒng)(8)控制儀器全反射部件(5)外圈上的相移器,對光程進行干預,圖像采集裝置(7)通過全反射鏡A采集到試件上因光場干涉而形成的條紋圖像,并傳送至控制處理系統(tǒng)(8),控制處理系統(tǒng)(8)控制鉆孔裝置(6)對試件鉆孔;利用本發(fā)明可以直接獲得試件沿深度上的殘余應力分布數(shù)據(jù)。
聲明:
“殘余應力沿深度分布分析儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)