本發(fā)明提供了一種基于有效超聲背散射信號(hào)提取多晶材料的晶粒平均尺寸的方法,屬于超聲無(wú)損表征領(lǐng)域。首先,本方法采用包含全波形存儲(chǔ)功能的水浸超聲掃查系統(tǒng)和水浸超聲聚焦探頭對(duì)參考試塊采集A掃描信號(hào);然后,通過(guò)MATLAB計(jì)算A掃描信號(hào)的空間方差,得到實(shí)測(cè)實(shí)驗(yàn)曲線;之后,建立與實(shí)際檢測(cè)系統(tǒng)相匹配的超聲背散射理論模型;最后,擬合實(shí)驗(yàn)實(shí)測(cè)曲線與超聲背散射理論模型曲線,采用迭代法求解與參考試塊相對(duì)應(yīng)的材料空間相關(guān)函數(shù),實(shí)現(xiàn)提取晶粒平均尺寸,為多晶材料的超聲無(wú)損表征平均晶粒尺寸提供解決方案,具有較好的應(yīng)用前景及推廣價(jià)值。
聲明:
“基于有效超聲背散射信號(hào)提取多晶材料的晶粒平均尺寸的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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