本發(fā)明適用于無損檢測領(lǐng)域，提供一種用于研究應(yīng)力和磁記憶效應(yīng)關(guān)系的裝置，包括固定臺(tái)，所述固定臺(tái)上安裝有待測鐵磁器件，所述固定臺(tái)可對(duì)所述待測鐵磁器件拉伸和壓縮，所述裝置還包括激光發(fā)射器、起偏器、光學(xué)聚焦透鏡組件、檢偏器和光敏元件，所述激光發(fā)射器發(fā)出激光經(jīng)過起偏器，變成線偏振激光，所述線偏振激光經(jīng)過所述光學(xué)聚焦透鏡組件后，聚焦照射到待測鐵磁器件表面，經(jīng)反射，反射激光通過所述光學(xué)聚焦透鏡組件聚焦后經(jīng)過檢偏器照射到所述光敏元件上。本發(fā)明利用磁光克爾效應(yīng)的優(yōu)點(diǎn)，可以用于研究鐵磁材料中應(yīng)力和磁記憶現(xiàn)象的關(guān)系，也可以應(yīng)用于裂紋檢測。本發(fā)明裝置抗干擾強(qiáng)，同時(shí)也避免了使用柔性基底和磁性薄膜間接測量造成的系統(tǒng)誤差。