本發(fā)明公開了一種基于高光譜的米粒品質(zhì)功能基因解析方法,包括:使用高光譜成像系統(tǒng)采集米粒圖像并進行圖像處理,獲取光譜指數(shù);使用化學(xué)方法人工測定米粒的蛋白質(zhì)含量和直鏈淀粉含量,作為人工測量值;光譜指數(shù)與人工測量值相關(guān)性分析與建模;光譜指數(shù)作為基于圖像信息的表型性狀進行全基因組關(guān)聯(lián)分析,獲取相關(guān)的候選基因;候選基因的功能驗證。米粒品質(zhì)的傳統(tǒng)人工檢測為有損測量,該方法基于高光譜獲取米粒表型數(shù)據(jù)信息,結(jié)合光譜與圖像處理技術(shù)可實現(xiàn)米粒品質(zhì)相關(guān)指標(biāo)的無損檢測,提高檢測精度,同時提高GWAS分析結(jié)果的準(zhǔn)確度。此外,該方法結(jié)合遺傳轉(zhuǎn)化對候選基因進行功能驗證,使驗證結(jié)果更具有說服力,可為水稻品質(zhì)育種提供
新材料。
聲明:
“基于高光譜的米粒品質(zhì)功能基因解析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)