本發(fā)明涉及射線照相無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種圓柱體、圓錐體零件射線照相時厚度補償方法,其方法過程如下:a.將與被檢結(jié)構(gòu)件相同或相近材料的補償裝置進行超聲波和射線檢測,確認補償裝置內(nèi)部無大于Φ1mm缺陷;b.在補償裝置內(nèi)鉆圓柱孔或圓錐孔;c.將被檢結(jié)構(gòu)件置于內(nèi)孔內(nèi);d.進行射線照相,完成厚度補償。所述的補償裝置為長方體。所述的補償裝置為完整的整體或分割的整體。所述分割的整體的補償裝置設(shè)有定位銷或定位鍵定位。本發(fā)明厚度補償裝置制作簡單,沒有嚴格的公差限制,能成功實現(xiàn)大型鑄造部件內(nèi)圓柱或圓錐形結(jié)構(gòu)射線照相厚度補償。
聲明:
“圓柱體、零件射線照相時厚度補償方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)