本發(fā)明提供了一種基于二維集合經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解的DSPI條紋濾波系統(tǒng),包括:極值削減模塊、信號分解模塊、BIMFs分組模塊、去噪保真模塊和矯正模塊,在不引入間歇性測試的前提下,使其使用BEEMD方法分解DSPI條紋信號,得到一組從高頻到低頻排列的BIMF分量,每個BIMF都是局部窄帶、具有單一特征的子信號,按著相鄰BIMF成分間的相關(guān)性,將噪聲與信息區(qū)分開來,保留有用信息,即可完成濾波過程。經(jīng)過本發(fā)明的濾波之后,條紋信號的信噪比有了極大的提升,視覺效果良好。與本發(fā)明相結(jié)合的DSPI無損檢測技術(shù),可以直接投入工程實際,檢測零件是否有損傷存在。
聲明:
“基于二維集合經(jīng)驗?zāi)B(tài)分解的DSPI條紋濾波系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)