公開了一種偽雙能欠采樣物質(zhì)識別系統(tǒng)。該系統(tǒng)利用基于CT圖像的雙能投影欠采樣物質(zhì)識別方法,在第二層探測器中僅利用少量的探測器進(jìn)行雙能數(shù)據(jù)采樣,并將該方法中解方程組的部分進(jìn)行優(yōu)化,有效的實(shí)現(xiàn)了低成本,快速度的雙能物質(zhì)識別成像。具有應(yīng)用于安全檢查,無損檢測,醫(yī)療診斷等領(lǐng)域的潛力。
聲明:
“偽雙能欠采樣物質(zhì)識別系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)