本發(fā)明提出了一種小角X射線散射的雙模型擬合方法,包括:獲取步驟:獲得被分析對象的散射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)圖譜;建模步驟:根據(jù)散射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)圖譜的特征構(gòu)建雙模型;解析步驟:調(diào)整各向同性散射體的散射強(qiáng)度計(jì)算公式模型和取向散射體的散射強(qiáng)度計(jì)算公式模型中的各可調(diào)參數(shù),使得各向同性散射體的散射強(qiáng)度計(jì)算公式模型和取向散射體的散射強(qiáng)度計(jì)算公式模型相加后得到的計(jì)算圖譜與所述散射強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)圖譜之差最小,即可解析出各模型的參數(shù)。本發(fā)明還提出了一種小角X射線散射的雙模型擬合系統(tǒng)。本發(fā)明為利用小角X射線散射進(jìn)行有效觀測材料介觀尺度結(jié)構(gòu)的無損檢測提供了更好的數(shù)據(jù)支持。
聲明:
“小角X射線散射的雙模型擬合方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)