本發(fā)明公開(kāi)了一種基于高光譜轉(zhuǎn)基因玉米籽粒的識(shí)別裝置與方法,包括以下步驟:通過(guò)本發(fā)明的高光譜儀器獲得轉(zhuǎn)cry1Ab/cry2Aj?G10evo基因玉米和非其親本玉米的高光譜圖像;通過(guò)圖像處理的方法獲得感興趣區(qū)域光譜信息,進(jìn)行光譜數(shù)據(jù)預(yù)處理;分別利用所有的光譜和提取的特征光譜建立PLS和SVM辨別分析模型。本發(fā)明建立的轉(zhuǎn)基因玉米籽粒SG?PLS模型的識(shí)別率達(dá)到了90%以上。相對(duì)于傳統(tǒng)的分子檢測(cè)方法來(lái)說(shuō),本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)基因玉米和非轉(zhuǎn)基因玉米籽粒的快速、可視化無(wú)損鑒別,而且操作簡(jiǎn)單、無(wú)需大量的實(shí)驗(yàn)處理、成本低,具有良好的應(yīng)用前景和可觀的市場(chǎng)價(jià)值。
聲明:
“基于高光譜轉(zhuǎn)基因玉米籽粒的識(shí)別裝置與方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)