本發(fā)明提供一種利用光標定硅納米線傳感器的方法,包括:對所述硅納米線傳感器進行表面修飾;獲取預定測試環(huán)境下已修飾硅納米線傳感器在不同光照強度下的光響應電流;基于所述光響應電流確定光響應函數(shù)表達式的光響應函數(shù)解析式;根據(jù)所述光響應函數(shù)解析式和環(huán)境變量偏置值,確定目標物響應函數(shù)表達式的目標物響應函數(shù)解析式;基于所述目標物響應函數(shù)解析式,確定待測樣品的響應電流所對應的待測樣品濃度。該方法利用硅納米線對光的吸收效率來評估硅納米線傳感器的性能,解決由于傳感單元差異引起的傳感器件響應效率不一致問題。該標定方法具有簡單、高效、成本低、器件無損和不干擾后續(xù)器件使用的優(yōu)點。
聲明:
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