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用于集成電路電性失效分析的芯片測控系統(tǒng)及測試方法

1161   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:59:29
本發(fā)明公開了用于集成電路電性失效分析的芯片測控系統(tǒng)及測試方法,該系統(tǒng)實現(xiàn)了不同封裝形式的待測失效芯片與光電檢測儀之間靈活可靠的光信號耦合,并且通過上位機、失效芯片裝卡組件和失效芯片測控組件之間的交互為待測失效芯片提供了進入并保持特定失效狀態(tài)的觸發(fā)手段;其次,通過對待測失效芯片的失效表征工作電流進行連續(xù)采樣和實時檢測,確保了對待測失效芯片失效態(tài)的識別和監(jiān)控。最后,通過環(huán)境變量傳感模塊實現(xiàn)了對待測失效芯片檢測環(huán)境的實時監(jiān)測。
聲明:
“用于集成電路電性失效分析的芯片測控系統(tǒng)及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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