本發(fā)明公開了一種CPI測試結構,包括:基底,其中形成有層間介電層;鈍化層;設置在所述基底表面;頂層金屬層,設置在所述鈍化層下方;層間金屬層,其包括貫穿所述層間介電層的層間互連結構,所述層間互連結構設置有首端和末端,所述首端和末端分別與頂層金屬層電連接;所述層間互連結構還包括多個凸出端部,所述凸出端部延伸至頂層金屬層并與頂層金屬層電連接。本發(fā)明可節(jié)省失效分析過程中剝掉更多金屬及介電層次所花的時間,提高失效分析效率。本發(fā)明還涉及一種基于該CPI測試結構的失效分析方法。
聲明:
“CPI測試結構及基于該結構的失效分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)