本發(fā)明提供了一種人工耳蝸植入體的失效分析方法。該人工耳蝸植入體失效分析方法包括:ID遙測、阻抗遙測、順應(yīng)性測試及刺激輸出的測試。本發(fā)明提供的人工耳蝸植入體的失效分析方法,旨在解決現(xiàn)有人工耳蝸耳蝸植入體失效分析方法的失效原因定位難、定位不準的問題,有效提升人工耳蝸植入體產(chǎn)品量產(chǎn)的合格率。
聲明:
“人工耳蝸植入體的失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)