本發(fā)明提供一種考慮級聯(lián)失效的電路系統(tǒng)容錯(cuò)能力仿真分析方法,其包括:S1、結(jié)構(gòu)和功能分析;S2、構(gòu)建網(wǎng)表文件;S3、構(gòu)建失效描述文件;S4、注入初始失效;S5、調(diào)用SPICE進(jìn)行仿真;S6、判斷是否發(fā)生級聯(lián)失效,如果發(fā)生級聯(lián)失效,更新電路結(jié)構(gòu)信息并返回步驟S2,若未發(fā)生級聯(lián)失效,則認(rèn)為級聯(lián)失效過程停止;S7、收集級聯(lián)失效傳播路徑相關(guān)數(shù)據(jù);S8、根據(jù)步驟S7中級聯(lián)失效分析結(jié)果,對關(guān)鍵元器件進(jìn)行冗余備份;S9、更新電路結(jié)構(gòu),重新計(jì)算改進(jìn)設(shè)計(jì)后的電路容錯(cuò)能力提升程度。本發(fā)明基于SPICE仿真軟件開展仿真計(jì)算分析,能夠從系統(tǒng)角度分析電路系統(tǒng)的級聯(lián)失效傳播行為,并指導(dǎo)電路系統(tǒng)的容錯(cuò)設(shè)計(jì),為電路內(nèi)部結(jié)構(gòu)優(yōu)化重構(gòu)提供方法支撐。
聲明:
“考慮級聯(lián)失效的電路系統(tǒng)容錯(cuò)能力仿真分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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