本發(fā)明涉及界面應(yīng)力應(yīng)變模擬領(lǐng)域,特別公開(kāi)了一種涉及氧化層動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)的涂層失效分析方法,通過(guò)接收模擬自變量,所述模擬自變量包括積分點(diǎn)坐標(biāo)、溫度及熱暴露時(shí)間;根據(jù)所述模擬自變量,通過(guò)預(yù)設(shè)的氧化層厚度?溫度?熱暴露時(shí)間函數(shù),確定目標(biāo)氧化層厚度;將所述目標(biāo)氧化層厚度輸入受試熱障涂層的有限元模型中,使所述有限元模型中的氧化層根據(jù)所述目標(biāo)氧化層厚度沿界面法線方向生長(zhǎng),并結(jié)合預(yù)設(shè)的邊界條件輸出對(duì)應(yīng)的膨脹應(yīng)力應(yīng)變場(chǎng)數(shù)據(jù);根據(jù)所述模擬自變量及所述邊界條件確定熱不匹配應(yīng)力應(yīng)變場(chǎng)數(shù)據(jù);根據(jù)所述膨脹應(yīng)力應(yīng)變場(chǎng)數(shù)據(jù)及所述熱不匹配應(yīng)力應(yīng)變場(chǎng)數(shù)據(jù)確定涂層損傷失效狀態(tài)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)界面非均勻氧化生長(zhǎng)動(dòng)態(tài)模擬,從而提升了準(zhǔn)確度。
聲明:
“涉及氧化層動(dòng)態(tài)生長(zhǎng)的涂層失效分析方法、裝置及設(shè)備” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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