本發(fā)明公開(kāi)了一種用于提取硬盤(pán)運(yùn)行狀況的變點(diǎn)小波方法,首先時(shí)序化硬盤(pán)運(yùn)行狀況并剔除常量,生成硬盤(pán)SMART時(shí)序特征;其次用線性內(nèi)插法填充時(shí)序特征的空缺值;其二用歸一化方式等值化時(shí)序特征;其三分解出硬盤(pán)SMART時(shí)序特征的小波;其四并以可視化方式呈現(xiàn)小波形態(tài)的不同頻率;最后用卷積網(wǎng)絡(luò)與長(zhǎng)短記憶網(wǎng)絡(luò)驗(yàn)證變點(diǎn)小波具有表征硬盤(pán)失效的有效性。該方法不僅能處理含缺失值的硬盤(pán)運(yùn)行狀況日志還能提取出具有指示硬盤(pán)失效的變點(diǎn)小波特征。從而實(shí)現(xiàn)從硬盤(pán)運(yùn)行狀況日志中提取小波,用小波預(yù)測(cè)硬盤(pán)的健康狀況,獲得了提高預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率和精準(zhǔn)率的技術(shù)效果。
聲明:
“基于變點(diǎn)小波法的硬盤(pán)失效分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)