本發(fā)明公開了一種RAM失效的檢測處理方法、裝置和系統(tǒng),應(yīng)用于對中央處理器CPU/數(shù)字信號處理器DSP的RAM失效的檢測處理。其中,該方法包括:獲取所述RAM中的程序內(nèi)容,將獲取的程序內(nèi)容與正確的程序內(nèi)容進(jìn)行比對,若所述RAM中程序內(nèi)容的錯(cuò)誤率低于預(yù)定值,則使用正確的程序內(nèi)容對發(fā)生錯(cuò)誤的程序內(nèi)容進(jìn)行數(shù)據(jù)修復(fù);通過檢測數(shù)據(jù)修復(fù)后的CPU/DSP的數(shù)據(jù)處理情況,評估所述數(shù)據(jù)修復(fù)是否成功,若所述評估結(jié)果為數(shù)據(jù)修復(fù)失敗,則通過復(fù)位的方式重新加載RAM中的程序內(nèi)容進(jìn)行修復(fù)。采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案,能夠在及時(shí)準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)RAM失效的基礎(chǔ)上進(jìn)行自動(dòng)修復(fù),將RAM失效對業(yè)務(wù)的影響將至最低,并降低人工成本。