本發(fā)明提供一種存儲器單元失效檢測方法與系統(tǒng),將存儲器單元中每一位設(shè)為初始數(shù)碼,并讀出存儲器單元中每一位的內(nèi)容,將存儲器單元中每一位的內(nèi)容從初始數(shù)碼修改為變反數(shù)碼,當其他存儲器單元中每一位的內(nèi)容未發(fā)生改變時,讀出存儲器單元中每一位的內(nèi)容,檢測存儲器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準確,當修改準確時,再次將存儲器單元中每一位的內(nèi)容修改,再次檢測存儲器單元中每一位的內(nèi)容是否修改準確,當修改準確時,表明存儲器單元正常。整個過程,能夠檢測可能發(fā)生的存儲器單元轉(zhuǎn)換故障以及對周邊存儲器單元數(shù)據(jù)操作引發(fā)的單個存儲器單元的耦合故障,能夠準確檢測存儲器單元是否失效。
聲明:
“存儲器單元失效檢測方法與系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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