本發(fā)明涉及用熒光材料檢測(cè)熒光計(jì)的失效或性能惡化,具體涉及一種用于自檢熒光計(jì)的失效或性能惡化的系統(tǒng)和方法,包括安裝在載體上以相對(duì)于一個(gè)或多個(gè)固定熒光計(jì)移動(dòng)的熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物。使用所述熒光計(jì)初始測(cè)量所述熒光參考標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度,并且在熒光計(jì)使用了一段規(guī)定時(shí)間后,使用熒光計(jì)測(cè)定熒光標(biāo)準(zhǔn)物的熒光發(fā)射強(qiáng)度的測(cè)試量值。將所述測(cè)試量值與所述初始量值相比較,并且基于所述測(cè)試量值與所述初始量值的偏差確定所述熒光計(jì)的失效或性能惡化。
聲明:
“用熒光材料檢測(cè)熒光計(jì)的失效或性能惡化” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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