本發(fā)明提供的一種測(cè)試失效的測(cè)試向量的定位方法,包括以下步驟:將測(cè)試向量集分成多個(gè)邏輯分段,并在部分邏輯分段前加入虛擬標(biāo)記位向量,虛擬標(biāo)記位向量后的第一個(gè)測(cè)試向量為起始測(cè)試向量;將具有虛擬標(biāo)記位向量的邏輯分段的測(cè)試向量加載到待測(cè)器件上完成測(cè)試,并將測(cè)試結(jié)果在位圖中示出;以及通過(guò)起始測(cè)試向量的位置計(jì)算出邏輯分段中測(cè)試結(jié)果失效的測(cè)試向量在測(cè)試向量集中的地址。本發(fā)明通過(guò)虛擬標(biāo)記位后的起始測(cè)試向量的位置計(jì)算出邏輯分段中測(cè)試結(jié)果失效的測(cè)試向量在測(cè)試向量集中的地址,實(shí)現(xiàn)了定位了失效的測(cè)試向量在測(cè)試向量集中的位置,使得調(diào)試的工作可以很容易的進(jìn)行。
聲明:
“測(cè)試失效的測(cè)試向量的定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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