本發(fā)明涉及一種針對壓敏電阻失效狀態(tài)監(jiān)測的預(yù)測方法,包括下述步驟:用8/20電流沖擊壓敏電阻;測量壓敏電阻第一次受到?jīng)_擊電流后的宏觀電容量;測量壓敏電阻第一次受到?jīng)_擊電流后的壓敏電壓;將壓敏電壓與宏觀電容量的乘積定義為壓敏電阻初期劣化指標(biāo);持續(xù)監(jiān)測壓敏電阻初期劣化指標(biāo),當(dāng)繼續(xù)受到電流沖擊后,壓敏電壓與宏觀電容量的乘積低于該指標(biāo)時,表示壓敏電阻處于劣化初期,性能良好,可以繼續(xù)使用;當(dāng)乘積值高于該指標(biāo)時,代表了壓敏電阻已進(jìn)入劣化的中后期。本發(fā)明解決了壓敏電阻失效監(jiān)測中漏電流與壓敏電壓的滯后性問題,提出壓敏電阻初期劣化指標(biāo)與漏電流和壓敏電壓參數(shù)相結(jié)合,這一參數(shù)的預(yù)先性是漏電流與壓敏電壓無可取代的的作用。
聲明:
“針對壓敏電阻失效狀態(tài)監(jiān)測的預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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