本發(fā)明提供了一種可視化的存儲器
芯片修補分析程式檢驗方法和裝置,所述方法包括:根據(jù)顯示區(qū)域的參數(shù)顯示存儲器芯片包含的多個存儲子模塊的圖形化結(jié)構(gòu),存儲子模塊包括多個陣列排列的存儲單元;選取預(yù)設(shè)位置的存儲單元為模擬失效存儲單元,并記錄模擬失效存儲單元的位置;顯示用于覆蓋所述模擬失效存儲單元的位置的失效單元顯示標(biāo)識;輸入模擬失效存儲單元的位置至修補分析程式中,得到修補方案,以獲取修補存儲單元的位置;顯示用于覆蓋所述修補存儲單元的位置的修補單元顯示標(biāo)識;根據(jù)修補單元顯示標(biāo)識對失效單元顯示標(biāo)識的覆蓋情況,生成分析報告。直觀形象的展示了檢驗修補分析程式的整個過程以及檢驗結(jié)果,方便快捷且節(jié)省時間。
聲明:
“可視化的存儲器芯片修補分析程式檢驗方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)