本發(fā)明公開了使用數(shù)據(jù)陣列從陣列結(jié)構(gòu)的多個(gè)測試來報(bào)告和/或分析測試數(shù)據(jù)。一種方法包括獲取所述測試數(shù)據(jù)并在數(shù)據(jù)陣列中報(bào)告所述測試數(shù)據(jù),所述數(shù)據(jù)陣列包括至少兩個(gè)表示不同測試的部分。根據(jù)轉(zhuǎn)換表來組織存儲(chǔ)在所述數(shù)據(jù)陣列中的數(shù)據(jù),所述轉(zhuǎn)換表描述了所述數(shù)據(jù)陣列中要測試的數(shù)據(jù)的位置和要分析的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)則。還可以生成大量其他數(shù)據(jù)布置,例如,列出預(yù)定最大數(shù)量的失效點(diǎn)的坐標(biāo)文件或芯片做出的包括失效點(diǎn)的芯片報(bào)告。所述數(shù)據(jù)陣列以更易于生成和存儲(chǔ)的形式報(bào)告所有測試數(shù)據(jù),并且其可以被轉(zhuǎn)換成圖像。本發(fā)明還公開了用于使用所述數(shù)據(jù)陣列來分析數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)分析方法。