一種
芯片失效模式的確定方法、終端,所述方法包括:獲取芯片在多個(gè)測(cè)試電壓下的失效比特;對(duì)所獲取到的失效比特進(jìn)行失效模式運(yùn)算,獲得至少一個(gè)失效比特組以及每一個(gè)失效比特組的失效模式,其中,所述失效比特組包括至少一個(gè)測(cè)試電壓下的失效比特;基于所述失效比特組的失效模式,確定所述失效比特組中失效比特的失效模式。通過(guò)本發(fā)明方案能夠提高芯片失效分析的準(zhǔn)確度。
聲明:
“芯片失效模式的確定方法、終端” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)