本發(fā)明公開(kāi)了一種電子元器件失效原因定位方法，包括以下步驟：構(gòu)建所述電子元器件的故障樹(shù)；利用故障樹(shù)到貝葉斯網(wǎng)絡(luò)之間的映射方法，將故障樹(shù)映射為貝葉斯網(wǎng)絡(luò)；將失效分析案例按照貝葉斯網(wǎng)絡(luò)的節(jié)點(diǎn)進(jìn)行梳理，得到各個(gè)節(jié)點(diǎn)的案例統(tǒng)計(jì)信息；利用各個(gè)節(jié)點(diǎn)的案例統(tǒng)計(jì)信息，計(jì)算各個(gè)節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的后驗(yàn)概率；通過(guò)所述電子元器件的失效現(xiàn)象找到后驗(yàn)概率最大的節(jié)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的失效原因。本發(fā)明能夠直觀地得到造成失效現(xiàn)象的各個(gè)原因的發(fā)生概率，準(zhǔn)確地對(duì)失效現(xiàn)象進(jìn)行原因定位，提高失效分析的效率和準(zhǔn)確性。