本發(fā)明公開了一種嵌入式存儲芯片打線導(dǎo)致芯片失效的解決方法，包括主控芯片，主控芯片上設(shè)置有efuse模塊；包括以下步驟：檢測efuse PIN是否有效，若是，讀取efuse前64bit數(shù)據(jù)，并檢測efuse內(nèi)有無數(shù)據(jù)或者第一、第二份數(shù)據(jù)均錯，若無數(shù)據(jù)或者第一、第二份數(shù)據(jù)均錯，跳過NAND BOOT進(jìn)入EP0 INIT，進(jìn)入主控芯片主循環(huán)；否，則讀取ROM的pad配置表；若有數(shù)據(jù)或第一、第二份數(shù)據(jù)無錯，則找到正確配置信息；若配置信息正確則根據(jù)efuse信息配置管腳，若配置信息不正確且efuse有數(shù)據(jù)且三份均為錯，讀取ROM的pad配置表；進(jìn)入pad配置流程，進(jìn)行NAND BOOT；進(jìn)入主控芯片主循環(huán)；進(jìn)入vendor efuse編程命令流程和等待host命令；有效解決嵌入式存儲芯片打線偏差導(dǎo)致芯片失效，需重新定義芯片管腳功能的難題。