本發(fā)明是一種陶瓷電容失效的防護(hù)方法,涉及電子設(shè)備中陶瓷電容領(lǐng)域,其包括電容篩選、電裝加工、三防處理、環(huán)境試驗,所述的電容篩選過程包括:(1)外觀初查;(2)溫度循環(huán):將所述合格電容先后置于-55℃和85℃的高低溫箱內(nèi),分別保持30min,交替循環(huán)五次;(3)高溫老化:將上述(2)步驟中溫度循環(huán)過的電容置于85℃的高低溫箱內(nèi)保持48h,通過實時檢測電容的漏電流值,判斷出電容是否存在裂紋;(4)常溫終測:常溫下檢測電容的漏電流值、耐壓值、容值;(5)外觀復(fù)查。它解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的陶瓷電容失效的問題,主要應(yīng)用于電子設(shè)備中陶瓷電容的防護(hù)。
聲明:
“陶瓷電容失效的防護(hù)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)