本發(fā)明涉及一種音頻
芯片失效的自恢復(fù)方法,包括步驟:對音頻芯片進(jìn)行上電復(fù)位檢測;若音頻芯片發(fā)生上電復(fù)位,則對音頻芯片進(jìn)行自恢復(fù),否則繼續(xù)進(jìn)行上電復(fù)位檢測。本發(fā)明音頻芯片失效的自恢復(fù)方法利用在上電復(fù)位后會恢復(fù)默認(rèn)值的寄存器的特性對音頻芯片進(jìn)行上電復(fù)位檢測,從而能夠準(zhǔn)確地判斷音頻芯片是否處于正常工作狀態(tài);在檢測到音頻芯片受到外圍供電影響而無法正常工作時,能夠在不影響其他電子模塊的情況下對音頻模塊進(jìn)行自恢復(fù),使音頻芯片恢復(fù)正常工作。
聲明:
“音頻芯片失效的自恢復(fù)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)