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基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效時間評估方法

894   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-19 08:59:39
一種基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效時間評估方法,該方法有四大步驟:步驟一:對SRAM型FPGA的配置網(wǎng)表文件進行解析,采用SelectMAP配置方法,利用可重構(gòu)技術設計一套遍歷式單粒子故障注入方法;步驟二:對FPGA進行功能電路配置,并對搭載有具體功能電路的FPGA實施遍歷式故障注入試驗;步驟三:收集敏感位數(shù)據(jù),利用敏感位數(shù)據(jù)驗證三模冗余設計的效率,并計算功能電路的敏感因子;步驟四:利用敏感因子計算功能電路的功能失效時間。本發(fā)明能夠?qū)Υ钶d有功能電路的FPGA進行功能失效時間評估,計算功能電路時間參數(shù),提高預測精度和運算效率,為單粒子加固提供數(shù)據(jù)上的支持,具有較好的可行性和推廣價值。
聲明:
“基于SRAM型FPGA敏感因子的功能失效時間評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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