本申請公開了一種運行復(fù)合絕緣子老化失效評估方法,包括步驟:獲取n個分別屬于不同參數(shù)指標(biāo)的微觀測試參數(shù);將根據(jù)n個微觀測試參數(shù)測試得到的多個測試數(shù)值進行歸一化,得到歸一化數(shù)值;獲取n個長度與預(yù)設(shè)數(shù)值相同的軸線段,以構(gòu)建軸線段模型;將n個歸一化數(shù)值分別等效為n個軸線段上以原點為起點的線段,其中歸一化數(shù)值小于預(yù)設(shè)數(shù)值;分別計算n個歸一化數(shù)值對應(yīng)的線段的終點相連形成的第一n邊形面積以及n個軸線段終點相連形成的第二n邊形面積;將第一n邊形的面積與第二n邊形的面積進行量化,得到量化數(shù)值;根據(jù)預(yù)設(shè)評估模型,得到在量化數(shù)值下的評估結(jié)果。能夠解決現(xiàn)有評估技術(shù)存在的區(qū)分度不夠以及片面性問題。
聲明:
“運行復(fù)合絕緣子老化失效評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)