本發(fā)明公開了一種電壓調(diào)整器動態(tài)EMMI分析系統(tǒng)及分析方法,包括：EMMI平臺、PCB基板、外部電源、信號發(fā)生器、V?I源。PCB基板置于EMMI平臺上，PCB基板上通過插針安裝有夾具一和夾具二，PCB基板包括信號端、電源端、公共地、負(fù)載端4個端口，4個端口分別與信號發(fā)生器、外部電源、系統(tǒng)地、V?I源相連，夾具一和夾具二分別用以安裝失效電壓調(diào)器和正常電壓調(diào)整器。通過包含外部電源、信號發(fā)生器、V?I源在內(nèi)的動態(tài)EMMI分析系統(tǒng)，能夠使電壓調(diào)整器內(nèi)部器件進(jìn)入工作狀態(tài)，從而有效激發(fā)能夠被微光顯微鏡獲所取的缺陷。將失效電壓調(diào)整器和正常電壓調(diào)整器進(jìn)行相同方式的加電，并且通過開關(guān)進(jìn)行統(tǒng)一切換，能夠快速實(shí)現(xiàn)動態(tài)EMMI圖像的對比。