本發(fā)明提供一種元器件FMEA分析層次劃分方法與系統(tǒng),根據(jù)元器件的失效部位,將元器件分解為具有獨立的失效機理的功能單元,根據(jù)元器件失效信息和預(yù)設(shè)層次劃分需求,確定由最低功能單元組合而成最低分析層級,確定最低分析層級的失效影響,待分析最低分析層級的上一分析層級失效影響時,將最低分析層級的失效模式作為失效影響,進(jìn)行失效影響分析,依次類推,確定對整個元器件的失效影響,根據(jù)對整個元器件的失效影響,對元器件進(jìn)行可靠性分析。整個過程,將元器件劃分為可分析的功能單元,以便從功能單元的失效機理出發(fā)對元器件開展FMEA分析,有利于掌握元器件內(nèi)部失效的薄弱環(huán)節(jié),真實、準(zhǔn)確獲得元器件的失效影響,對元器件進(jìn)行準(zhǔn)確的可靠性分析。
聲明:
“元器件FMEA分析層次劃分方法與系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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