一種發(fā)光元件的檢測方法,包括:提供設(shè)置有待檢測的多個發(fā)光元件與多條導電走線的基板,每一發(fā)光元件包括分別與一條導電走線電性連接的正極與負極,基板對應(yīng)每一個發(fā)光元件開設(shè)有一對通孔,每一對通孔分別對準與一個發(fā)光元件的正極與負極連接的導電走線;提供線圈結(jié)構(gòu),線圈結(jié)構(gòu)包括第一線圈與第一線圈結(jié)構(gòu)電性連接的兩個導電插頭;提供金屬棒與纏繞金屬棒且與交流電源電性連接的第二線圈;將兩個導電插頭分別插入一個發(fā)光元件對應(yīng)的一對通孔內(nèi)使第一線圈與該發(fā)光元件電性連接,啟動交流電源并使金屬棒朝向線圈結(jié)構(gòu)移動,第一線圈產(chǎn)生感應(yīng)電流驅(qū)動發(fā)光元件發(fā)光以檢測該發(fā)光元件是否失效。本發(fā)明還提供一種檢測多個發(fā)光元件的檢測裝置以及基板。
聲明:
“發(fā)光元件的檢測方法、檢測裝置及基板” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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