本發(fā)明提供了一種芯片內(nèi)部動(dòng)作時(shí)間的檢測(cè)系統(tǒng)及方法，芯片具有狀態(tài)輸出管，該檢測(cè)系統(tǒng)包括：檢測(cè)設(shè)備、外部時(shí)鐘、計(jì)算單元和定義單元；檢測(cè)設(shè)備具有失效地址存儲(chǔ)單元，用于對(duì)虛擬地址進(jìn)行計(jì)數(shù)；其中，芯片的狀態(tài)輸出管與失效地址存儲(chǔ)單元的控制端相連；外部時(shí)鐘與失效地址存儲(chǔ)單元的輸入端相連；計(jì)算單元，估算要測(cè)量的動(dòng)作時(shí)間，據(jù)此定義時(shí)鐘信號(hào)的周期；定義單元，在失效地址存儲(chǔ)單元中為每個(gè)時(shí)鐘信號(hào)定義不同的虛擬地址；檢測(cè)設(shè)備，檢測(cè)時(shí)，將虛擬地址存儲(chǔ)于失效地址存儲(chǔ)單元中；然后計(jì)算單元還統(tǒng)計(jì)存儲(chǔ)于失效地址存儲(chǔ)單元中的虛擬地址數(shù)目；此外，計(jì)算單元根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)的周期和虛擬地址數(shù)目，從而準(zhǔn)確地計(jì)算出芯片內(nèi)部動(dòng)作時(shí)間。