目前國(guó)內(nèi)外所采用的半導(dǎo)體器件及集成電路扁 平封裝外引線耐應(yīng)力腐蝕檢測(cè)方法及裝置雖然各有 特點(diǎn),但均存在試驗(yàn)周期長(zhǎng)、效率低、與外引線實(shí)際使 用狀態(tài)相去較遠(yuǎn)及難以定量之不足。本發(fā)明采用使 外引線在腐蝕介質(zhì)中發(fā)生彎曲變形的加載縮短了試 驗(yàn)周期;在相同試驗(yàn)條件下同時(shí)對(duì)n×h個(gè)外引線進(jìn) 行檢測(cè)(n為底座數(shù)≤20,h為每個(gè)底座的外引線數(shù)≤ 10)提高了檢測(cè)效率;通過(guò)記錄外引線斷裂失效時(shí)間 和累計(jì)失效率并以此進(jìn)行威布爾統(tǒng)計(jì)處理可達(dá)到定 量檢測(cè)之目的。
聲明:
“半導(dǎo)體器件外引線耐應(yīng)力腐蝕檢測(cè)法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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