本發(fā)明公開了一種串聯(lián)電容檢測方法和設(shè)備,涉及電容技術(shù)領(lǐng)域,能夠提高電容串聯(lián)應(yīng)用時的可靠性。該串聯(lián)電容檢測方法,包括:對串聯(lián)電容中的各個電容同時進行檢測;判斷所述串聯(lián)電容中是否存在失效電容,所述失效電容為處于短路狀態(tài)、開路狀態(tài)或容值老化狀態(tài)的電容;在所述串聯(lián)電容中存在失效電容時,用備用電容替換所述失效電容。本發(fā)明用于對串聯(lián)電容的檢測。
聲明:
“串聯(lián)電容檢測方法和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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