本發(fā)明公開了一種電磁鐵動(dòng)作次數(shù)壽命檢測(cè)裝置，包括感應(yīng)通道，MCU電路和繼電器；感應(yīng)通道中的檢測(cè)通道實(shí)施感知被電磁鐵動(dòng)鐵芯運(yùn)動(dòng)情況，每遮擋或觸發(fā)一次MCU電路計(jì)數(shù)一次，校準(zhǔn)通道為無(wú)遮擋光路或接通電源就能輸出信號(hào)，每通電一次MCU電路計(jì)數(shù)一次，二者計(jì)數(shù)值比較，確定一個(gè)測(cè)試周期內(nèi)電磁鐵失效的次數(shù)，若失效次數(shù)大于設(shè)定的次數(shù)或被檢電磁鐵動(dòng)作滯后時(shí)間值大于設(shè)定的時(shí)間值，或總的測(cè)試次數(shù)大于MCU電路設(shè)定的次數(shù)時(shí)，MCU電路令測(cè)試停止。本發(fā)明通過(guò)比差測(cè)試確定失效次數(shù)，失效次數(shù)和滯后時(shí)間界定確認(rèn)電磁鐵壽命，思路巧妙，裝置簡(jiǎn)單，制作成本低廉等優(yōu)點(diǎn)。