本發(fā)明公開(kāi)了一種對(duì)相變存儲(chǔ)器單元相變能力的快速檢測(cè)方法,不需要使用開(kāi)關(guān)單元,而是基于相變材料活化能特性,以及基于相變材料本征特性,通過(guò)各檢測(cè)步驟獲得了電阻漂移系數(shù)ν與剩余壽命N的關(guān)系,以及活化能E
σ與剩余壽命N的關(guān)系。通過(guò)測(cè)試與之相關(guān)聯(lián)的電阻漂移過(guò)程來(lái)判斷相變材料層的相變性能,不需要開(kāi)關(guān)器件,而且測(cè)試過(guò)程始終為低的可讀電流,不會(huì)降低器件壽命??梢砸揽繉?duì)照組來(lái)判斷單元處于何種體質(zhì)階段,距離失效還有多遠(yuǎn),而無(wú)需完整測(cè)試整個(gè)失效過(guò)程,大為減少測(cè)試時(shí)間。
聲明:
“對(duì)相變存儲(chǔ)器單元相變能力的快速檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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