本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)、方法、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。該光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),用于對(duì)待測(cè)物進(jìn)行檢測(cè),包括:光源、波分復(fù)用光波導(dǎo)模塊、至少一個(gè)檢測(cè)探針、探測(cè)器;光源發(fā)射的光通過(guò)波分復(fù)用光波導(dǎo)模塊傳輸至所述至少一個(gè)檢測(cè)探針;所述至少一個(gè)檢測(cè)探針將光射出到待測(cè)物中,并收集攜帶有待測(cè)物信息的光信號(hào);所述至少一個(gè)檢測(cè)探針收集的攜帶有待測(cè)物信息的光信號(hào)通過(guò)波分復(fù)用光波導(dǎo)模塊傳輸至探測(cè)器;探測(cè)器對(duì)所述至少一個(gè)檢測(cè)探針收集的攜帶有待測(cè)物信息的光信號(hào)進(jìn)行檢測(cè),以確定待測(cè)物的成分。利用光對(duì)不同物質(zhì)的不同反射特性對(duì)物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè),相對(duì)于
電化學(xué)傳感器,不需要反應(yīng)物,也不容易失效,可以保證壽命。
聲明:
“光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)、方法、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)