本申請公開了一種存儲器的檢測系統(tǒng)、方法及
芯片。本申請在檢測系統(tǒng)設(shè)置檢測控制模塊,用于在與檢測系統(tǒng)連接的內(nèi)建自測試模塊上電后,然后利用檢測控制模塊監(jiān)聽測試事件,并向測試訪問端口控制器提供測試數(shù)據(jù),測試訪問端口控制器將測試數(shù)據(jù)通過相應(yīng)的測試管腳輸入內(nèi)建自測試模塊,以使內(nèi)建自測試模塊利用測試數(shù)據(jù)對存儲器進(jìn)行自動檢測,相比現(xiàn)有技術(shù),不再需要人工配置大量的測試策略,節(jié)省了測試流程,同時對存儲器進(jìn)行自動測試有效降低了存儲器失效的幾率,規(guī)避了芯片在使用上的風(fēng)險。另外通過自動測試還能夠快速排除存儲器出錯導(dǎo)致的功能無法正常使用的情況,降低了芯片的損耗。
聲明:
“存儲器的檢測系統(tǒng)、方法及芯片” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)