本發(fā)明提供一種測試結(jié)構(gòu)及測試方法,測試結(jié)構(gòu)包括:多條射頻鏈路,各所述射頻鏈路均包括多個焊點(diǎn)以及位于相鄰焊點(diǎn)之間與焊點(diǎn)相連接的傳輸線;不同所述射頻鏈路中至少一處對應(yīng)的所述傳輸線的長度不同。對測試結(jié)構(gòu)中的各射頻鏈路進(jìn)行阻抗測試,以得到各射頻鏈路的阻抗?時間曲線,根據(jù)阻抗?時間曲線和各射頻鏈路的結(jié)構(gòu)可以識別出長度不同的傳輸線,從而識別出各射頻鏈路中的焊點(diǎn)和傳輸線,如果此時有射頻鏈路中存在失效點(diǎn),由于焊點(diǎn)和傳輸線已經(jīng)識別出來,就可以實(shí)現(xiàn)對失效點(diǎn)的精確定位,準(zhǔn)確分析器件失效位置,滿足新型射頻器件研制以及應(yīng)用可靠性研究需求。
聲明:
“測試結(jié)構(gòu)和測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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