本發(fā)明公開(kāi)了一種電子組件生命期自監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，其包括射頻識(shí)別標(biāo)簽、微控制器；射頻識(shí)別標(biāo)簽包括非易失存儲(chǔ)器、實(shí)時(shí)時(shí)鐘、射頻接口，并內(nèi)嵌或外接溫度傳感器；射頻接口用于外接天線，與讀寫(xiě)器進(jìn)行雙向數(shù)據(jù)交換；非易失存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)時(shí)間溫度積分參數(shù)文件、生命期文件、溫度記錄文件；微處理器用于根據(jù)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的當(dāng)前計(jì)時(shí)溫度傳感器當(dāng)前檢測(cè)的電子組件溫度，以及時(shí)間溫度積分參數(shù)文件中的溫度積分參數(shù)數(shù)據(jù)、生命期文件中的生命期數(shù)據(jù)、溫度記錄文件中的溫度記錄數(shù)據(jù)，執(zhí)行電子組件生命期自監(jiān)測(cè)計(jì)算，并將計(jì)算得到電子組件的剩余生命期更新到生命期文件。本發(fā)明能對(duì)電子組件生命期進(jìn)行溫度時(shí)間二維監(jiān)測(cè)，能對(duì)電子組件進(jìn)行準(zhǔn)確失效分析。