本發(fā)明涉及一種電池失效機(jī)理的原位測(cè)試,特別涉及一種多場(chǎng)耦合下電池原位掃描電子顯微鏡的測(cè)試裝置,屬于電池原位表征領(lǐng)域。裝置用于對(duì)電池施加不同的溫度,可以實(shí)現(xiàn)在不同溫度下監(jiān)測(cè)電池截面的變形信息,從而分析電池的失效機(jī)理。包括:寬溫度原位電池測(cè)試系統(tǒng)、力學(xué)原位加載電池測(cè)試系統(tǒng)或?qū)挏囟仍浑姵販y(cè)試系統(tǒng)和力學(xué)原位加載電池測(cè)試系統(tǒng);本發(fā)明可以對(duì)電池施加不同的溫度的同時(shí)還可以施加不同的外部力的作用,從而可以使電池的測(cè)試環(huán)境更接近實(shí)際的運(yùn)行環(huán)境,以便更準(zhǔn)確分析電池在不同環(huán)境中的失效機(jī)理,從而指導(dǎo)電池的商業(yè)化生產(chǎn)以及后續(xù)的研究。
聲明:
“多場(chǎng)耦合下電池原位掃描電子顯微鏡的測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)