本發(fā)明涉及一種小微型集成電路可靠性測(cè)試儀，包括控制單元、電源模塊、測(cè)試插座、掃描測(cè)試模塊、指示模塊及控制按鈕；測(cè)試插座用于插放IC；掃描測(cè)試模塊包括電流發(fā)生電路、開(kāi)關(guān)控制電路以及電壓測(cè)試電路，電流發(fā)生電路用于通過(guò)測(cè)試插座對(duì)IC的管腳提供定值電流，開(kāi)關(guān)控制電路用于控制IC的管腳接地，電壓測(cè)試電路用于測(cè)試管腳的電壓；控制按鈕用于控制測(cè)試儀在掃描識(shí)別模式和測(cè)試模式間切換；控制單元用于在掃描識(shí)別模式下得到良品IC的管腳分布表，及在測(cè)試模式下對(duì)待測(cè)IC進(jìn)行可靠性測(cè)試并將失效信息輸出給指示模塊進(jìn)行失效信息指示。本發(fā)明還涉及一種集成電路測(cè)試方法。本發(fā)明只需在開(kāi)始時(shí)放上良品IC進(jìn)行掃描識(shí)別，后續(xù)即可對(duì)待測(cè)IC進(jìn)行連續(xù)測(cè)試。