本發(fā)明涉及一種集成電路OS測試機(jī),包括控制單元、電源模塊、測試插座、掃描測試模塊、指示模塊及控制按鈕;測試插座用于插放IC;掃描測試模塊包括電流發(fā)生電路、開關(guān)控制電路以及電壓測試電路,電流發(fā)生電路用于通過測試插座對(duì)IC的管腳提供定值電流,開關(guān)控制電路用于控制IC的管腳接地,電壓測試電路用于測試管腳的電壓;控制按鈕用于控制測試機(jī)在掃描識(shí)別模式和測試模式間切換;控制單元用于在掃描識(shí)別模式下得到良品IC的管腳分布表,及在測試模式下對(duì)待測IC進(jìn)行開/短路測試并將失效信息輸出給指示模塊進(jìn)行失效信息指示。本發(fā)明還涉及一種集成電路OS測試方法。本發(fā)明只需在開始時(shí)放上良品IC進(jìn)行掃描識(shí)別,后續(xù)即可對(duì)待測IC進(jìn)行連續(xù)測試。
聲明:
“集成電路開/短路測試方法及測試機(jī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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